EL检测常见问题及解决方法
作者: 三工光电 时间:2015-11-17 阅读:7139
1、破片
生产过程中由于铺设、层压操作不当导致热应力、机械应力作用不均匀都有可能出现破片现象。
2、黑芯
黑芯一般是由于原材料商在拉硅棒的时候没有拉均匀所致。
3、断栅
断栅的原因是丝网印刷参数没调好或丝网印刷质量不佳,或者是硅片切割不均匀,也有可能出现断层现象。
4、暗片
出现暗片的原因是由于硅片存在缺陷,导致少子数目变少,在电致发光的作用下,缺陷出发出的光相对比正常地方发出的光少,所以在相机的照片中显出黑暗。
5、低效片
若低电流、电压、FF可能是硅片和PN结的问题;也有可能是扩散的问题或原材料的问题如(铝浆)过刻的危害;减小有效光电池面积直接影响短路电流;增加电池材料的高频损伤、降低电池参数;会造成一定程度的漏电。
解决方法:组件测试中出现以上几种问题,都会对组件质量照成严重影响,必须做返工处理